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日本Kosaka Laboratory公司及Surfcom系列(非接觸式表面粗糙度儀)產品介紹
2025-05-23
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        Kosaka Laboratory Ltd.(小坂研究所株式會社)成立于 1936年,總部位于日本東京,是表面粗糙度測量與形貌分析儀器領域的全球領先企業。公司專注于高精度接觸式/非接觸式表面測量技術,產品廣泛應用于汽車、精密加工、半導體、光學元件和科研等領域。

公司特點

  • 核心技術

    • 接觸式表面粗糙度儀(Surftest系列)

    • 非接觸式光學輪廓儀(Surfcom系列)

    • 3D形貌測量系統(基于白光干涉、激光共聚焦技術)

  • 行業地位:日本市場份額第一,全球高端表面測量設備核心供應商之一。



Kosaka Surfcom系列(非接觸式表面粗糙度儀)

Surfcom系列 是Kosaka的非接觸式光學表面粗糙度/輪廓測量系統,采用白光干涉(WLI)、激光共聚焦(CLI)等技術,適用于超精密加工、半導體、光學鍍膜、MEMS等領域的表面形貌分析。

1. 基礎型號(按技術原理分類)

(1) 白光干涉儀(WLI)系列

型號垂直分辨率橫向分辨率測量范圍(Z軸)特點
Surfcom 1800A0.1 nm0.5 μm0.1 mm ~ 10 mm通用型,高性價比
Surfcom 1900DX0.05 nm0.3 μm0.05 mm ~ 15 mm高精度,動態范圍大
Surfcom 2000NX0.01 nm0.1 μm0.01 mm ~ 20 mm納米級分辨率,科研級

(2) 激光共聚焦顯微鏡(CLI)系列

型號垂直分辨率橫向分辨率最大傾斜角特點
Surfcom 3000CL1 nm0.2 μm±85°高反射表面測量(如金屬、鏡面)
Surfcom 3500CLI0.5 nm0.1 μm±87°超高速掃描(適用于產線檢測)

2. 特殊應用型號

(1) 大視場/高陡坡測量

型號視場(FOV)最大階躍高度適用場景
Surfcom 5000WX10 mm × 10 mm5 mm晶圓、平板顯示器
Surfcom 6000TS5 mm × 5 mm10 mm渦輪葉片、三維微結構

(2) 在線自動化檢測

型號測量速度自動化接口特點
Surfcom 4000A-AC10 sec/scanRobot Arm (Kuka/FANUC)集成式工業自動化
Surfcom 4500AI5 sec/scanAI缺陷分類智能質檢

3. 配件與軟件

(1) 關鍵配件

型號功能
LENS-50X50倍長工作距物鏡(WD=8 mm)
STG-200防振臺(隔振頻率≤1 Hz)
CAL-N15NIST可溯源標準校準件(Ra 15 nm)

(2) 分析軟件

軟件名稱功能
Surfcom Vision3D形貌可視化、粗糙度參數(Ra/Rz/Sa/Sq)計算
Surfcom Analyzer Pro高級紋理分析、功率譜密度(PSD)

注意事項

  1. 選型建議

    • 白光干涉儀(WLI)適合光滑表面(Ra < 1 μm)

    • 激光共聚焦(CLI)適合高反射/粗糙表面(Ra > 1 μm)


其他注意事項:

更詳細的技術資料需通過提供項目詳情獲取,歡迎咨詢。

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